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Journal of Electron Microscopy 影响因子与历年IFoid
| 年度 | 文章数/年 | 5年平均分 | 非自引分 | 自引率% | IFoid |
|---|---|---|---|---|---|
2014
|
0 | 1.5448 | 1.6330 | 0.0 | 1.6330 |
| 2013 | 0 | 1.4858 | 1.6322 | 0.0 | 1.6322 |
| 2012 | 49 | 1.4672 | 1.3401 | 6.8 | 1.4379 |
| 2011 | 68 | 1.1389 | 1.1239 | 14.2 | 1.3101 |
| 2010 | 85 | 1.4110 | 1.4999 | 15.3 | 1.7698 |
Journal of Electron Microscopy 期刊简介与审稿周期
| 期刊预警 | 非预警 | |
|---|---|---|
| 期刊类别 | SCIE WOS官方核验 | |
| ISSN号 | 0022-0744 | |
| Open Access | 待查 | |
| 出版国家 | ||
| 出版商 | 待查 | |
| 出版周期 | ||
| 大/小类学科 | ||
| JCR分区 | ||
中科院分区 |
升级版
23年12月
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升级版
22年12月
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基础版
21年12月
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升级版
21年12月
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基础版
20年12月
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升级版
20年12月
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| 投稿经验 | ||
| 相关链接 | ||
点评/经验
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