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Journal of X-Ray Science and Technology 影响因子与历年IFoid

年度 文章数/年 5年平均分 非自引分 自引率% IFoid
2023 new 84 1.6000 1.4000 17.6 1.7001
2022 90 1.9002 2.3000 23.3 2.9997
2021 80 1.6750 1.7998 26.3 2.4418
2020 84 1.1589 1.0519 31.5 1.5348
2019 81 1.0380 0.8190 39.0 1.3419
2018 74 1.2120 0.9519 42.7 1.6619
2017 74 1.1560 0.9031 34.6 1.3810
2016 71 0.8609 0.5849 16.3 0.6990
2015 63 1.0349 0.7410 33.3 1.1110
2014 60 1.3040 0.6361 54.5 1.3982
2013 48 1.3669 0.8250 43.6 1.4621
2012 40 1.1379 0.6029 44.7 1.0899
2011 40 1.4292 0.4290 61.4 1.1110
2010 38 1.2569 0.8751 49.4 1.7289
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Journal of X-Ray Science and Technology 期刊简介与审稿周期

期刊预警 非预警
期刊类别 SCIE    WOS官方核验
ISSN号 0895-3996
Open Access 5.91%
出版国家 荷兰
出版商 IOS PRESS
出版周期 季刊
大/小类学科 仪器仪表 | 光学 | 物理学、应用
JCR分区 Q3
中科院分区
中科院分区
升级版new
23年12月
升级版
22年12月
  • 综述:否
  • 大类:医学4区 
  • 小类:仪器仪表4区 光学4区 物理:应用4区 
基础版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:医学4区
  • 小类:仪器仪表4区 光学4区 物理:应用4区
升级版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:医学4区
  • 小类:仪器仪表4区 光学4区 物理:应用4区
基础版
20年12月
  • 大类:医学4区
  • 小类:仪器仪表4区 光学4区 物理:应用4区
升级版
20年12月
  • 大类:医学4区
  • 小类:仪器仪表4区 光学4区 物理:应用4区
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