Microelectronics Reliability 5年平均影响因子,母语润色,发文量,期刊简介,期刊点评,审稿时间,期刊投稿经验,分区,中科院分区SCI期刊影响因子查询_2024年(2022年度) 影响因子_Justscience_中外核心期刊系统_友情价英文母语润色

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Microelectronics Reliability 影响因子与历年IFoid

年度	文章数/年	5年平均分	非自引分	自引率%	IFoid
2023	310	1.6000	1.4000	12.5	1.6000
2022	329	1.7001	1.4000	12.5	1.6000
2021	355	1.6339	1.2151	14.3	1.4181
2020	344	1.5710	1.3401	15.7	1.5889
2019	316	1.4030	1.3500	12.1	1.5348
2018	526	1.4471	1.1910	19.7	1.4831
2017	403	1.4660	1.0060	18.6	1.2361
2016	419	1.6231	1.1271	17.8	1.3710
2015	413	1.2851	0.9320	22.5	1.2018
2014	422	1.3361	1.1890	17.0	1.4330
2013	315	1.2059	1.0051	17.2	1.2141
2012	458	1.2012	0.8710	23.4	1.1369
2011	374	1.2120	0.8900	23.7	1.1669
2010	341	1.0531	0.8740	20.6	1.1010
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Microelectronics Reliability 期刊简介与审稿周期

期刊预警	非预警
期刊类别	SCIE WOS官方核验
ISSN号	0026-2714
Open Access	14.36%
出版国家	英国
出版商	PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
出版周期	月刊
大/小类学科	工程、电气与电子 \| 纳米科学与纳米技术 \| 物理学、应用
JCR分区	Q3
中科院分区	升级版 23年12月	综述：否大类：工程技术4区小类：工程：电子与电气4区纳米科技4区物理：应用4区
	升级版 22年12月	综述：否大类：工程技术4区小类：工程：电子与电气4区纳米科技4区物理：应用4区
	基础版 21年12月	综述：否大类：工程技术4区小类：工程：电子与电气4区纳米科技4区物理：应用4区
	升级版 21年12月	综述：否大类：工程技术4区小类：工程：电子与电气4区纳米科技4区物理：应用4区
	基础版 20年12月	大类：工程技术4区小类：工程：电子与电气4区纳米科技4区物理：应用4区
	升级版 20年12月	大类：工程技术4区小类：工程：电子与电气4区纳米科技4区物理：应用4区
投稿经验	MedSci \| LetPub \| 小木虫 \| Justscience
相关链接	期刊简介 (PubMed) \| 期刊官网 \| 投稿

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