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Journal of Electronic Testing-Theory and Applications 影响因子与历年IFoid

年度 文章数/年 5年平均分 非自引分 自引率% IFoid
2023 new 43 0.9000 0.9000 18.2 1.1001
2022 46 1.0000 0.8000 11.1 0.9000
2021 47 0.9791 0.6499 18.2 0.7951
2020 55 0.9931 0.7861 10.7 0.8800
2019 62 0.6640 0.5049 15.3 0.5961
2018 54 0.6759 0.5360 14.2 0.6250
2017 55 0.6070 0.4060 26.7 0.5540
2016 57 0.6640 0.5101 21.2 0.6470
2015 44 0.3971 0.2380 34.1 0.3609
2014 58 0.4340 0.3890 25.0 0.5189
2013 64 0.3820 0.3330 22.4 0.4290
2012 67 0.4630 0.2959 34.8 0.4540
2011 59 0.4850 0.3900 16.7 0.4680
2010 49 0.5961 0.4729 5.4 0.5000
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Journal of Electronic Testing-Theory and Applications 期刊简介与审稿周期

期刊预警 非预警
期刊类别 SCIE    WOS官方核验
ISSN号 0923-8174
Open Access 9.56%
出版国家 美国
出版商 SPRINGER
出版周期 双月刊
大/小类学科 工程、电气与电子
JCR分区 Q4
中科院分区
中科院分区
升级版new
23年12月
升级版
22年12月
  • 综述:否
  • 大类:工程技术4区 
  • 小类:工程:电子与电气4区 
基础版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:工程技术4区
  • 小类:工程:电子与电气4区
升级版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:工程技术4区
  • 小类:工程:电子与电气4区
基础版
20年12月
  • 大类:工程技术4区
  • 小类:工程:电子与电气4区
升级版
20年12月
  • 大类:工程技术4区
  • 小类:工程:电子与电气4区
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