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Surface Topography-Metrology and PropertiesSCIE 影响因子与历年IF

年度 文章数/年 5年平均分 非自引分 自引率% IF
2024 new 122 2.2000 2.2000 8.3 2.4002
2023 100 1.9002 1.9002 5.0 1.9999
2022 193 2.5000 2.1001 22.2 2.7001
2021 204 2.3521 1.7410 20.3 2.1849
2020 115 2.6920 1.5791 22.5 2.0382
2019 102 0.0000 1.2900 20.0 1.6131
2018 57 0.0000 2.2932 6.0 2.4391
2017 36 0.0000 1.8718 9.7 2.0741
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Surface Topography-Metrology and PropertiesSCIE 影响因子与历年IF

期刊预警 非预警 期刊类别 SCIE     WOS官方核验
ISSN号 2051-672X Open Access 5.21%
出版国家 英国 出版商 IOP PUBLISHING LTD
出版周期 JCR分区 Q2/Q3
大/小类学科 工程、机械 | 仪器仪表 | 材料科学、多学科
中科院分区
中科院分区
升级版new
25年3月
升级版
23年12月
升级版
22年12月
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  • 综述:否
  • 大类: 材料科学 3区
  • 小类: 材料科学:综合 4区 工程:机械 4区 仪器仪表 4区
基础版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类: 工程技术 4区
  • 小类: 工程:机械 3区 仪器仪表 3区 材料科学:综合 4区
升级版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类: 材料科学 4区
  • 小类: 工程:机械 4区 仪器仪表 4区 材料科学:综合 4区
基础版
20年12月
  • 大类: 材料科学 3区
  • 小类: 材料科学:综合 4区 工程:机械 4区 仪器仪表 4区
升级版
20年12月
  • 大类: 材料科学 4区
  • 小类: 工程:机械 4区 仪器仪表 4区 材料科学:综合 4区
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