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IEEE Electron Device Letters 影响因子与历年IFoid

年度 文章数/年 5年平均分 非自引分 自引率% IFoid
2023 (预测数据) - 0.0000 4.0807 0.0 4.0807
2022 522 4.8003 4.3997 10.2 4.9000
2021 429 4.6149 4.3948 8.7 4.8157
2020 417 3.9668 3.7260 11.0 4.1873
2019 459 3.6388 3.6772 12.9 4.2209
2018 448 3.1798 3.1889 15.0 3.7528
2017 419 3.1597 3.0210 12.0 3.4327
2016 394 2.8979 2.6671 12.5 3.0480
2015 402 2.5260 2.2021 12.9 2.5282
2014 393 2.7658 2.4560 10.8 2.7540
2013 480 2.8158 2.6281 13.1 3.0228
2012 528 2.6047 2.3542 15.6 2.7889
2011 537 2.7048 2.3739 16.7 2.8488
2010 456 2.6138 2.2989 15.4 2.7188
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IEEE Electron Device Letters 期刊简介与审稿周期

期刊预警 非预警
期刊类别 SCIE    WOS官方核验
ISSN号 0741-3106
Open Access
出版国家 美国
出版商 IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
出版周期 月刊
大/小类学科 工程、电气与电子
JCR分区 Q2
中科院分区
中科院分区
升级版new
23年12月
升级版
22年12月
  • 综述:否
  • 大类:工程技术2区 
  • 小类:工程:电子与电气2区 
基础版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:工程技术2区
  • 小类:工程:电子与电气2区
升级版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:工程技术2区
  • 小类:工程:电子与电气2区
基础版
20年12月
  • 大类:工程技术2区
  • 小类:工程:电子与电气2区
升级版
20年12月
  • 大类:工程技术2区
  • 小类:工程:电子与电气2区
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