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IEEE Transactions on Reliability 影响因子与历年IFoid

年度 文章数/年 5年平均分 非自引分 自引率% IFoid
2023 (预测数据) 145 5.1000 5.3999 -26.5 4.2697
2022 145 5.1000 5.3999 8.5 5.9003
2021 177 5.1499 5.3419 9.2 5.8827
2020 96 4.3244 4.1873 5.4 4.4239
2019 100 3.3919 2.9661 6.6 3.1772
2018 103 3.3040 2.5579 11.4 2.8882
2017 100 3.3588 2.3889 12.5 2.7287
2016 149 3.2019 2.2802 18.3 2.7901
2015 113 2.7287 1.9108 16.4 2.2869
2014 73 2.1859 1.6119 16.6 1.9340
2013 84 1.9852 1.1991 27.6 1.6569
2012 99 2.0668 1.7009 25.8 2.2932
2011 82 1.5300 1.0139 21.1 1.2851
2010 75 1.6979 0.8631 33.0 1.2879
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IEEE Transactions on Reliability 期刊简介与审稿周期

期刊预警 非预警
期刊类别 SCIE    WOS官方核验
ISSN号 0018-9529
Open Access
出版国家 美国
出版商 IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
出版周期 季刊
大/小类学科 计算机科学、硬件与架构 | 计算机科学、软件工程 | 工程、电气与电子
JCR分区 Q1
中科院分区
中科院分区
升级版new
23年12月
升级版
22年12月
  • 综述:否
  • 大类:计算机科学2区 
  • 小类:计算机:硬件2区 计算机:软件工程2区 工程:电子与电气2区 
基础版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:工程技术3区
  • 小类:计算机:硬件3区 计算机:软件工程2区 工程:电子与电气3区
升级版
21年12月
  • 综述:否
  • 大类:计算机科学2区 Top
  • 小类:计算机:硬件2区 计算机:软件工程1区 工程:电子与电气2区
基础版
20年12月
  • 大类:计算机科学2区
  • 小类:计算机:硬件2区 计算机:软件工程2区 工程:电子与电气2区
升级版
20年12月
  • 大类:计算机科学2区
  • 小类:计算机:硬件2区 计算机:软件工程2区 工程:电子与电气2区
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