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Microelectronics ReliabilitySCIE 影响因子与历年IF
| 年度 | 文章数/年 | 5年平均分 | 非自引分 | 自引率% | IF | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 2025 (预测 | 完整版 ) | 176 | 1.7998 | 2.4272 | -0.0 | 2.4266 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 2024 | 176 | 1.7998 | 1.7001 | 10.5 | 1.9002 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 2023 | 310 | 1.6000 | 1.4000 | 12.5 | 1.6000 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 2022 | 329 | 1.7001 | 1.4000 | 12.5 | 1.6000 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 2021 | 355 | 1.6339 | 1.2151 | 14.3 | 1.4181 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 2020 | 344 | 1.5710 | 1.3401 | 15.7 | 1.5889 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Microelectronics ReliabilitySCIE 影响因子与历年IF
| 期刊预警 | 非预警 | 期刊类别 | SCIE WOS官方核验 |
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| ISSN号 | 0026-2714 | Open Access | 14.36% |
| 出版国家 | 英国 | 出版商 | PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD |
| 出版周期 | 月刊 | JCR分区 | Q3/Q4 |
| 大/小类学科 | 工程、电气与电子 | 纳米科学与纳米技术 | 物理学、应用 | ||
| 新锐分区 |
最新版
26年3月
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中科院分区 |
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25年3月
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升级版
23年12月
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升级版
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22年12月
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基础版
21年12月
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21年12月
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基础版
20年12月
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升级版
20年12月
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